近场扫描光学显微镜工作模式多种多样, 光路配置灵活, 还能与脉冲激光及其探测技术相结合,同时进行时间分辨和空间分辨探测. 正因为这一系列独特的优势, 近场扫描光学显微镜已经逐渐成为一维功能半导体纳米材料发光性质研究的一种重要手段。