如果一个器件、元件或将用于制造器件的材料重复地受到温度急剧变化(这种影响可以通过许多不同的方式获得,例如重复地把一个器件从温度存在很大差异的设备来回放入和取出,或在冷的环境下断续地操作器件),它们会在工作特性方便发生变化或导致物理失效。温度冲击试验箱是为元器件提供急剧温度变化的温度条件,通过控制这种变化来检测元器件及材料的试验设备。这种设备主要用于小型电子元器件的质量评估、试验及相关的研究,例如用于半导体生产线的大量元器件的筛选。
通常把MIL或类似的标准作为温度冲击试验的依据。
一个典型的试验曲线包括下面的部分。

上述试验曲线由在温度85°C曝露15分钟,在-55°C曝露15分钟的一个循环组成。温度冲击试验样品连续承受十次上述循环。