射频芯片测试系统

射频芯片测试系统

  • 仪器分类 设计平台
  • 仪器状态
  • 所属单位 校内 > 电子科学与技术学院
  • 仪器生产商 NI
  • 购置日期 2024-11-13
  • 使用模式 项目委托,按时预约
  • 规格型号 NI射频芯片测试系统
  • 放置房间号 翔安校区 > 翔安校区主楼四号楼 > C201

使用指南

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FAQ

  • 暂无数据

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