半导体综合参数测试系统

半导体综合参数测试系统

  • 仪器分类 检测设备
  • 仪器状态
  • 所属单位 校内 > 电子科学与技术学院
  • 仪器生产商 中电科思仪科技股份有限公司；上海芯春电子科技有限公司；
  • 购置日期 2023-12-04
  • 使用模式 项目委托,按时预约
  • 规格型号 3674E（矢量网络分析仪）；PXB-BE-200（八英寸手动探针台）
  • 放置房间号 翔安校区 > 翔安校区主楼四号楼 > C202

使用指南

  • 暂无数据

FAQ

  • 暂无数据

用户评论

收藏

按时预约 委托预约