仪器详细信息 | 仪器名称(中文/英文) | 等离子深硅刻蚀机 ICP Plasma Detching System |
规格型号 | HSE M200 | |
仪器放置位置 | 文宣楼C406-4 | |
仪器功能介绍 | HSE M200深硅刻蚀机是感应耦合高密度等离子体干法刻蚀机(Inductively Coupled Plasma Etcher),采用半导体刻蚀机的成熟技术,独特设计的等离子体源,实现了对腔室内等离体密度的均匀控制,满足硅高深宽比刻蚀工艺的要求。HSE深硅刻蚀机具有稳定可靠的工艺性能、宽阔的工艺窗口和良好的工艺兼容性,主要用于 100mm晶片(可兼容 50~200mm直径晶片)的高深宽比刻蚀。在众多领域均被广泛应用,如:三维集成电路堆叠技术的硅通孔工艺;MEMS电容式惯性传感器;宏观设备的微型化。 | |
性能指标 | 该机台具备双射频源(13.56M)以及低射频(400K)下电极,气体可从中间及边缘进气,参数可设置起始值。 1. ICP主射频功率:500-2800W;副射频功率:500-2800W;下电极LF功率:40-400W;匹配稳定时间<3 s ; 2. 工艺气体:C4F8、SF6、O2和Ar; 3. 样品尺寸:8英寸,可向下兼容; 4. 下电极温度范围:-20~40℃; 5. 刻蚀材料:用于硅片的高深比刻蚀,推荐PR掩膜; 6. 刻蚀能力:(1)工艺兼容性良好,基础工艺可兼容50μm-1.2mm图形,角度垂直,刻蚀速率>8 um/min,与PR选择比>70; (2)高深宽比, TSV 10μm可用PR掩膜刻蚀150μm,TSV 1μm 可用PR掩膜刻蚀15μm,角度垂直; (3)小线宽极限刻蚀: Trench 0.6μm可达到深宽比>50 7.刻蚀均匀性:5% | |
样品要求 | 1、禁止刻蚀带金属样品 |
该设备为Bosch工艺,刻蚀过程中不能暴露金属,半小时起约。
用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
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未授权资格 | 需审核 | 需审核 |
普通资格 | 需审核 | 需审核 |
资深资格 | 免审核 | 免审核 |
序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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序号 | 标题 | 添加时间 | 操作 |
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待审核
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