仪器名称 | 自动型台阶轮廓及薄膜应力测试仪(Dektak XT) |
仪器状态 | 在用 |
规格型号 | Bruker Dektak XT |
仪器放置位置 | 厦门大学翔安校区文宣楼C406洁净室3 |
仪器功能介绍 | 1、薄膜测试,可对纳米级别膜层厚度或台阶高度进行准确测量。 2、表面粗糙度检测,适用于汽车、航空、医疗设备等多行业精密零部件的表面粗糙度常规鉴定。 |
性能指标 | 1、分辨率:6.5μm量程下为0.1nm 2、台阶高度重复性:0.4nm,1sigma在1μm台阶上 3、信号采集点:最多可达120000数据点 4、扫描长度:55mm 5、量程:高度方向最大量程为1mm |
样品要求 | 1、样品无强磁性。 2、样品表面无液体成分。 3、样品底部及表面相对平整,无明显的变形弯曲。 4、样品整体厚度<5cm |
用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
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未授权资格 | 需审核 | 需审核 |
普通资格 | 需审核 | 需审核 |
资深资格 | 免审核 | 免审核 |
序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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序号 | 标题 | 添加时间 | 操作 |
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